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La NASA, el NIST, Intel y muchos más, en Metromeet

2009-01-19

La V edición de Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, que se celebró en el Palacio Euskalduna de Bilbao los días 26 y 27 de marzo de 2009, ha contado este año con ponentes de la talla de Meyya Meyyapan, de la Nasa, o Bill Rippey del NIST.
El Programa de la Conferencia estaba formado por cuatro keynotes, dos tutoriales y 19 presentaciones, que abarcaron ámbitos como la nanometrología, normas y estándares, digitalizado en 3D, y se presentaron los últimos avances del sector.