Trimek es uno de los principales proveedores de soluciones y sistemas metrológicos. Nuestro conocimiento tecnológico nos permite ofrecer soluciones avanzadas que satisfacen las exigencias de todos nuestros clientes a nivel mundial.
- Innovalia Metrology presenta NanoCMM en EuroNanoForum 2009
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Innovalia Metrology ha presentado los últimos desarrollos y resultados del proyecto NanoCMM: Metrología por coordenadas, flexible y universal para la producción de micro y nano componentes en la conferencia internacional EuroNanoForum 2009, celebrada en Praga desde el 2 al 5 de junio de 2009.
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- Trimek construye un lote de máquinas para Renault
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Trimek ha finalizado la construcción de equipos para las plantas de producción de Renault en Asia y América del Sur. Renault visitó las instalaciones de Innovalia Metrology para ver la última máquina del lote de grandes equipos que encargó a Trimek para sus instalaciones de América del Sur y Asia.
En la fotografía, personal técnico de Trimek y Renault posan ante una de las nuevas máquinas que formará parte de las instalaciones de Renault.
- Innovalia Metrology presenta sus últimas novedades en la Feria Control
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Los días 5, 6, 7 y 8 de mayo, Innovalia Metrology ha participado en la 23ª edición de la Feria Control en Stuttgart, Alemania, la única feria en el mundo dedicada exclusivamente al aseguramiento de la calidad.
Innovalia Metrology presentó en Stuttgart las últimas novedades para garantizar la calidad de forma eficiente y reducir notablemente los costes de producción.
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- Metromeet clausura con éxito su V edición
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Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, celebró su quinta edición los días 26 y 27 de marzo en el Palacio Euskalduna de Bilbao. Metromeet ha contado este año con más de 120 asistentes, venidos de todo el mundo: Argentina, EEUU, Reino Unido, Holanda, Alemania, Rusia, España, Italia o Tailandia entre otros, que pudieron disfrutar de los dos tutoriales, cuatro keynotes y 25 presentaciones que componen la Conferencia.
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- La NASA, el NIST, Intel y muchos más, en Metromeet
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La V edición de Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, que se celebró en el Palacio Euskalduna de Bilbao los días 26 y 27 de marzo de 2009, ha contado este año con ponentes de la talla de Meyya Meyyapan, de la Nasa, o Bill Rippey del NIST.
El Programa de la Conferencia estaba formado por cuatro keynotes, dos tutoriales y 19 presentaciones, que abarcaron ámbitos como la nanometrología, normas y estándares, digitalizado en 3D, y se presentaron los últimos avances del sector.
- Disponible el calendario de cursos 2009
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Innovalia Metrology contará durante 2009 con una amplia oferta de cursos de Metrología: Cursos de Metrología Avanzada, Introducción a los sistemas de digitalizado óptico y la metrología virtual 3D, Curso de Tolerancias Dimensionales y Geométricas, Métodos de Verificación Periódica de Máquinas y Seminarios de I++.
Además, los cursos de formación a la carta permitirán a las empresas elegir entre un amplio abanico de posibilidades: Medición, Calibración, Medición Óptica, Software de Medición, etc.
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